Journals →  Материалы электронной техники →  2010 →  #4 →  Back

Наноматериалы и нанотехнологии
ArticleName Исследование фазового состава нанокомпозитных материалов SiO2CuOx методами рентгеновской спектроскопии поглощения и фотоэлектронной спектроскопии
ArticleAuthor Яловега Г. Э., Шматко В. А., Назарова Т. Н., Петров В. В., Заблуда О. В.
ArticleAuthorData Г. Э. Яловега, В. А. Шматко, Т. Н. Назарова, В. В. Петров, О. В. Заблуда, Южный федеральный университет.
Abstract
Проведены исследования нанокомпозитных материалов (пленок и порошков) состава SiO2CuOx, синтезированных золь-гель методом. Методом рентгеновской спектроскопии поглощения и фотоэлектронной спектроскопии изучен фазовый состав и оксидное состояние меди. Представлены результаты сопоставления экспериментальных рентгеновских спектров поглощения БТСРП за L2,3-краем Cu нанокомпозитных порошков и рентгеновские фотоэлектронные спекты пленок. Показано, что в материале, полученном в виде порошков, прошедших термическую обработку при температуре 300 и 500 °С формируется соединение меди соответствующее фазе CuO, в то время как дальнейшее увеличение температуры приводит к формирования двух фаз: фазы CuO и металлической фазы меди. В материале, полученном в виде пленок, присутствуют фазы оксидов меди CuO и Cu2O, а также фаза двойного оксида CuSiO3.
keywords Золь-гель метод, нанокомпозитный материал, рентгеновская спектроскопия поголощения, фотоэлектронная спектроскопия.
References
1. Cirilli, F. Influence of Cu overlayer on the properties of SnO-based gas sensors / F. Cirilli, S. Kaciulis, G. Mattogno, A. Galdikas, A. Mironas, D. Senuliene, A. Setkus // Thin Solid Films. - 1998. - V. 315. - P. 310—315.
2. Kissin, V. V. A comparative study of SnO2 and SnO2:Cu thin films for gas sensor applications / V. V. Kissin, S. A. Voroshilov, V. V. Sysoev // Thin Solid Films. - 1999. - V. 348. - P. 304—311.
3. Kravtsova, A. N. The atomic structure of Fe100-xCux nanoalloys: X-ray absorption analysis / A. N. Kravtsova, G. E. Yalovega, A. V. Soldatov , W. S. Yan, S. Q. Wei // J. Alloys and Comp. - 2009. - V. 469. - P. 42—49.
4. Аврамов, П. Н. Связь особенностей электронной структуры высокотемпературных сверхпроводников с формой их рентгеновских и электронных спектров. / П. Н. Аврамов, С. Г. Овчинников // Журн. структурной химии. - 1999. - Т. 40, № 1. - С. 131.
5. Гуревич, С. А. Исследование химического состояния меди в композитных пленках Cu/SiO2 методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / С. А. Гуревич, Т. А. Зарайская, С. Г. Конников, В. М. Микушин, С. Ю. Никонов , А. А. Ситникова, С. Е. Сысоев, В. В Хоренко, В. В. Шнитов, Ю. С. Гордеев // ФТТ. - 1997. - Т. 39, № 10.
6. Стервоедов, А. Н. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия ультратонких пленок титана и нитрида титана, полученных методом ионно-лучевого распыления / А. Н. Стервоедов, В. И. Фареник // Вестн. харьковского ун-та. - 2005. - № 657.
7. Домашевская, Э. П. XPS и XANES исследования нанослоев SnOx / Э. П. Домашевская, С. В. Рябцев, С. Ю. Турищев, В. М. Кашкаров, Ю. А. Юраков, О. А. Чувенкова, А. В. Щукарев // Конденсированные среды и межфазные границы. - 2008. - Т. 10, № 2.
8. Sugiyama, Osamu. XPS analysis of lead zirconate titanate thin films prepared via a sol-sel process / Osamu Sugiyama,Yasuhiro Kondo, Hisao Suzuki, Shoji Kaneko // J. Sol-Gel Sci. and Technol. - 2003. - V. 26. - P. 749—752.
9. Sainio, J. An XPS study of CrOx on a thin alumina film and in alumina supported catalysts / J. Sainio, M. Aronniemi, O. Pakarinen, K. Kauraala, S. Airaksinen, O. Krause, J. Lahtinen // Appl. Surface Sci. - 2005. - V. 252, N 4. - P. 1076—1083.
10. Changa, Sung-Sik. Photoluminescence properties of spark-processed CuO / Sung-Sik Changa, Hyung-Jik Leea, Hye Jeong Park // Ceramics Internat. - 2005. - V. 31.
11. Гижевский, Б. А. Фазовые превращения в СuO при облучении ионами He+ и под действием феерических ударных волн / Б. А. Гижевский, В. Р. Галахов, Д. А. Зацепин, Л. В. Елохина, Т. А. Белых, Е. А. Козлов, С. В. Наумов, В. Л. Арбузов, К. В. Шальнов, М. Нойман // ФТТ. - 2002. - Т. 44, вып. 7. - С. 1318—1325.
12. Лукирский, А. П. Исследование энергетической структуры Be и BeO методом ультрадлинноволновой рентгеновской спектроскопии / А. П. Лукирский, И. А. Брытов // ФТТ. - 1964. - № 6. - С. 43.
13. Gudat, W. Close similarity between photoelectric yield and photoabsorption spectra in the soft-X-ray range / W. Gudat, C. Kunz // Phys. Rev. Lett. - 1972. - V. 29, N 3. - P. 169—172.
14. Adam, M. S. Rumänien Spectroscopic investigation of deposited InP nanocrystals and small Cu clusters: Diss. … Zur Erlangung des Doktorgrades des Fachbereichs Physik der Universität / M. S. Adam - Hamburg, 2004.
15. Sham, T. K. Electronic structure of Cu—Au alloys from the Cu perspective: A Cu L3,2-edge study / T. K. Sham, A. Hiraya, M. Watanabe // Phys. Rev. - 1997. - V. 55.
16. Smolentsev, G. Local structure of reaction intermediates probed by time-resolved XANES spectroscopy / G. Smolentsev, G. Guilera, M. Tromp, S. Pascarelli, A. Soldatov // J. Chem. Phys. - 2009. - V. 130. - P. 174508.
17. Wagner, C. D. NIST X-ray photoelectron spectroscopy database / C. D. Wagner, A. V. Naumkin, A. Kraut-Vass, J. W. Allison, C. J. Powell, J. R. Rumble(Jr.) // NIST Standard Reference Database 20. Version 3.5 (http://srdata.nist.gov/xps/Default.aspx)
18. Wagner, C. D. Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy / C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, J. F. Moulder - Eden Prairie (Minnesota, US): Perkin-Elmer Corp., 1979.
19. McIntyre N. S. X-ray photoelectron studies on some oxides and hydroxides of cobalt, nickel, and copper / N. S. McIntyre, M. G. Cook // Anal. Chem. - 1975. - V. 47, N 13. - P. 2208—2213.
20. McIntyre, N. S. Chemical information from XPS—applications to the analysis of electrode surfaces / N. S. McIntyre, S. Sunder, D. W. Shoesmith, F. W. Stanchell // J. Vac. Sci. Technol. - 1981. - V. 18, N 3. - P. 714—721.
21. Рaбинович, В. А. Краткий химический справочник / В. А. Робинович, З. Я. Хавин - М. : Химия, 1978. - 392 с.
22. Baronetti, G. T. State of metallic phase in PtSn/Al2O3 catalysts prepared by different deposition techniques / G. T. Baronetti, S. R. de Miguel, O. A. Scelza, A. A. Castro // Appl. Catalysis. - 1986. - V. 24. - P. 109—116.
23. Golestani-Fard, F. Formation of cadmium stannates studied by electron spectroscopy / F. Golestani-Fard, T. Hashemi, K. J. D. Mackenzie, C. A. Hogarth // J. Mater. Sci. - 1983. - V. 18. - P. 3679—3685.
24. Нефедов, В. И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений / В. И. Нефедов - М. : Химия, 1984. - 256 с.
25. Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. В. Бриггса, М. Л. Сиха - М. : Мир, 1987. - 800 с.
26. Netterfield, R. P. Ion-assisted deposition of mixed TiO2—SiO2 films / R. P. Netterfield, P. J. Martin, C. G. Pacey, W. G. Sainty, D. R. McKenzie, G. Auchterlonie // J. Appl. Phys. - 1989. - V. 66, N 4. - P. 1805—1810.
Language of full-text russian
Full content Buy
Back