Редкие металлы, полупроводники | |
ArticleName | Рентгенофлуоресцентный метод в аналитическом контроле технологии переработки фосфогипса |
DOI | 10.17580/tsm.2016.10.12 |
ArticleAuthor | Козлов А. С., Цыренова А. Д., Богатырева Е. В., Филичкина В. А. |
ArticleAuthorData | ФГАОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», Москва, Россия: А. С. Козлов, аспирант, каф. сертификации и аналитического контроля, эл. почта: kozlovas44@gmail.com |
Abstract | В настоящей работе представлены результаты разработки методики определения химического состава фосфогипса и продуктов его выщелачивания. Рассмотрены основные сложности, возникающие при определении редкоземельных металлов в фосфогипсе и продуктах его выщелачивания, в том числе, связанные с их содержанием, спектральными наложениями, матричными эффектами, а также некоторыми особенностями современных рентгеновских спектрометров. Особое внимание в работе уделено редкоземельному концентрату и продуктам вторичного выщелачивания фосфогипса ввиду критических значений содержаний редкоземельных элементов в данных объектах исследования. Измерения проводили на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL Optim’X. В качестве стандартных образцов использовали рабочие пробы, аттестованные методом атомно-эмиссионной спектрометрии. С использованием данных градуировочных образцов были построены калибровочных кривые для Nd, La, Ce, Pr и Y в пересчете на оксиды данных элементов (вида R2O3, где R – редкоземельный элемент), характеризующиеся высокой степенью линейности. В работе приведены диапазоны содержаний редкоземельных элементов, для которых были построены калибровки, расчетные значения их пределов обнаружения данным методом, а также стандартные оценки погрешности и коэффициенты корреляции. Повышение достоверности определений достигается за счет учета спектральных наложений и матричных эффектов. Использование в качестве аналитического сигнала интенсивностей линий L-серии упрощает выбор параметров проведения анализа благодаря применению сравнительно низких ускоряющих напряжений и широко распространенных типов кристаллов-анализаторов (LiF 200). Полученные результаты свидетельствуют о целесообразности внедрения метода рентгенофлуоресцентного спектрального анализа в качестве метода экспресс-контроля содержания редкоземельных металлов в фосфогипсе и продуктах его переработки. Работа выполнена в рамках договора между Национальным исследовательским технологическим университетом «МИСиС» и ОАО ВНИИХТ (Москва, Россия) № 1/2012 от 20.11.2012, реализуемого при финансовой поддержке по постановлению Правительства РФ № 218 от 09.04.2010 г. |
keywords | Выщелачивание, хлорирование, рутил, тетрахлорид титана, кипящий слой, лейкоксен, автоклавный концентрат, кварц-лейкосеновый концентрат |
References | 1. ГОСТ 23789–79. Вяжущие гипсовые. Методы испытаний. — Введ. 1980–07–01.— М. : ИПК Изд-во стандартов, 1979. |
Language of full-text | russian |
Full content | Buy |