АТОМНАЯ СТРУКТУРА И МЕТОДЫ СТРУКТУРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ | |
Название | Сопоставление структуры термоэлектрического материала Bi0,5Sb1,5Te3, полученного методами горячего прессования и искрового плазменного спекания |
Автор | В. Т. Бублик, Д. И. Богомолов, З. М. Дашевский, И. А. Драбкин, В. В. Каратаев, М. Г. Лаврентьев, Г. И. Пивоваров, В. Б. Освенский, А. И. Сорокин, Н. Ю. Табачкова |
Информация об авторе | В. Т. Бублик, Д. И. Богомолов, НИТУ «МИСиС»; З. М. Дашевский, Университет Бен−Гуриона, Израиль; И. А. Драбкин, В. В. Каратаев, М. Г. Лаврентьев, ОАО «Гиредмет»; Г. И. Пивоваров, Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов; В. Б. Освенский, А. И. Сорокин, ОАО «Гиредмет»; Н. Ю. Табачкова, НИТУ «МИСиС». |
Реферат | Методами рентгеновской дифрактометрии и растровой электронной микроскопии проведен сопоставительный анализ структуры компактных образцов термоэлектрических материалов Bi0,5Sb1,5Te3, полученных методами искрового плазменного спекания (SPS−метод) и традиционного горячего прессования. Показано, что методом искрового плазменного спекания не удалось получить размеры структуры мельче, чем при горячем прессовании. Но качество спекания, характеризуемое отсутствием пор и трещин, размером фрагментов поверхности излома, при сопоставимых температурах выше в образцах, полученных SPS−методом. Работа выполнена в рамках Федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно−технологического комплекса России на 2007—2012 годы» (г/к № 02.513.12.3062). |
Ключевые слова | Рентгеновская дифрактометрия, растровая электронная микроскопия, термоэлектрические материалы, Bi0,5Sb1,5Te3, искровое плазменное спекание, горячее прессование. |
Библиографический список | 1. Chen, G. Recent developments in thermoelectric materials / G. Chen, M. S. Dresselhaus, J. P. Fleurial, T. Caillat // Int. Mater. Rev. − 2003. − V. 48. − Р. 45. |
Language of full-text | русский |
Полный текст статьи | Получить |