ФГAОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»

В. Т. Бублик, А. И. Воронин, Н. Ю. Табачкова

ООО «НПО «Кристалл»

В. Ф. Пономарев

Выявлены разрушения термоэлектрического материала на основе теллурида висмута под воздействием высоких температур, что препятствует применению этих материалов для прямого преобразования тепловой энергии в электрическую. Предложены механизмы протекающих процессов. Показано, что промышленная технология электроискровой резки материала приводит к возникновению нарушенного слоя, который при последующей пайке термоэлементов способствует проникновению припоя в объем термоэлектрического материала.

Работа выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки России (г. к. 16.552.11.7009).
Исследования проведены на оборудовании ЦКП «Материаловедение и металлургия» на базе НИТУ «МИСиС».

1. Zebarjadi, M. Perspectives on thermoelectrics: from fundamentals to device applications / M. Zebarjadi, K. Esfarjani, M. S. Dresselhaus, Z. F. Ren, G. Chen // Energy and Environmental Sci. − 2012. − N 5.
2. Castillo, E. E. Thermoelectric characterization by transient Harman method under nonideal contact and boundary conditions / E. E. Castillo, C. L. Hapenciuc, T. Borca−Tasciuc // Rev. Sci. Instrum. − 2010. − V. 81.
3. Keawprak, N. Thermoelectric properties of Bi(2)Se(x)Te(3−x) prepared by Bridgman method / N. Keawprak, S. Lao−Ubol, C. Eamchotchawalit, Z. M. Sun // J. Alloys and Compounds. − 2011. − V. 509. − P. 9296—9301.
4. Бублик, В. Т. Влияние условий выращивания слитков твердых растворов Bi₂Te_2,7Se_0,3 на анизотропию физических свойств / В. Т. Бублик, А. И. Воронин, Е. А. Выговская, В. Ф. Пономарев, Н. Ю. Табачкова, О. В. Торопова // Изв. вузов. Материалы электрон. техники. − 2010. − № 1. − С. 50—54.
5. Voronin, A. I. Structure of profiled crystals based on solid solutions of Bi₂Te₃ and their X−ray diagnostics. / A. I. Voronin, V. T. Bublik, N. Yu. Tabachkova, Yu. M. Belov // J. Electronic Mater. − 2011. − V. 40. − Р. 794.
6. Бублик, В. Т. Использование анализа текстуры в крупнозернистых пластинах халькогенидов Bi и Sb для определения формы фронта кристаллизации и глубины нарушенных поверхностных слоев / Ю. М. Белов, В. Т. Бублик, А. И. Воронин, Е. А. Выговская, В. Ф. Пономарев, Н. Ю. Табачкова, О. В. Торопова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. − 2009. − № 5. − С. 28—31.